掃描式電子顯微鏡原理

掃描式電子顯微鏡原理

穿透式電子顯微鏡( 英語: Transmission electron microscope,縮寫: TEM、CTEM),簡稱透射電鏡,是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。

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