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wafer acceptance test introduction

晶圓接受測試(Wafer Acceptance Test)是在晶圓完成製程前,能否從晶圓廠出貨到下一流程的依據.主要是測試擺在晶圓切割道(Scribe Line)上的測試鍵(Testkey),測試鍵通常設計有許多元件, 如: NMOS及PMOS電晶體,電容, 電阻, N 及Pcontact,Poly contact, Metal line ...

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最佳解答: 1. WAT的英文全名是 Wafer Acceptance Test, 晶圓接受測試. 它是晶圓在完成製程前, 能否從晶圓廠出貨到下一流程的依據. 主要是測試擺在晶圓切...

請問半導體(晶圓)用語WAT和Bin是什麼意思呢? | Yahoo奇摩知識+

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晶圓接受測試(Wafer Acceptance Test)是在晶圓完成製程前,能否從晶圓廠出貨到下一流程的依據.主要是測試擺在晶圓切割道(Scribe Line)上的測試鍵(Tes...

晶圓接受測試(WAT) 歡迎蒞臨鼎新知識學院網站

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WAT Introduction (Andy)_交通運輸_工程科技_專業資料。WAT Introduction (Andy).ppt Wafer Acceptance Test I...

WAT Introduction (Andy)_圖文_百度文庫

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Wafer Test ¾In-line parametric test (WAT: Wafer Acceptance Test): Performed right after th...

元件電路計測實驗 - 國立交通大學資訊技術服務中心

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yieldWex offers a unique tool to do semiconductor PCM or WAT data analysis to skip faulty ...

What is PCM or WAT Data Analysis? - yieldWerx

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Figure 2.11: An automated parameter tester including wafer prober for final wafer acceptan...

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