tem構造

TEM: 是用入射電子對被觀察物的繞射來瞭解其結構,包括晶格形狀與晶格大小,甚至晶格缺陷與原子的堆疊狀態都可以解讀出來.SEM: 是用入射電子對被觀察物的反射來瞭解其表面,可以做高倍率的模擬放大,像是光學顯微鏡的放大版.

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